Application of the topological derivative to post-processing infrared time-harmonic thermograms for defect detection

Detalles Bibliográficos
Autores: Pena Rodríguez, Manuel|||0000-0002-7362-2586, Rapun Banzo, Maria Luisa|||0000-0001-5787-5252
Tipo de recurso: artículo
Fecha de publicación:2020
País:España
Institución:Universidad Politécnica de Madrid
Repositorio:Archivo Digital UPM
OAI Identifier:oai:oa.upm.es:92477
Acceso en línea:https://oa.upm.es/92477/
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Infrared thermography
Topological derivative
Inverse problem
Non-destructive testing
Descripción
Descripción no disponible.